A VeTek Semiconductor CVD SiC Coating Dummy wafer vezető kínai sic wafer gyártóként és beszállítóként egy speciális eszköz a félvezető gyártásban, amelyet főként szilícium lapkák tesztelésére és ostyatesztelési folyamatokra használnak. További kérdéseit szívesen fogadjuk.
● Magas hőmérsékletű gázállóság: A SiC Dummy Wafer kiválóan ellenáll a magas hőmérsékletű gázeróziónak, extrém körülmények között is használható. Ez a rugalmasság egyenletes teljesítményt biztosít még a legigényesebb környezetben is.
● Hosszú távú szerkezeti integritás: CVD SiC bevonat A dummy ostyákat úgy tervezték, hogy ellenálljanak a hajlításnak és a deformációnak hosszú ideig. Tartósságuk biztosítja, hogy több tesztelési cikluson keresztül is megbízhatóak maradjanak, csökkentve a gyakori csere szükségességét.
● Részecskementes felület: A SiC próbalapkák könnyen tisztítható felülettel rendelkeznek, amely minimálisra csökkenti a részecskeproblémát, ami kritikus a szennyeződésmentes környezet fenntartásához. Ez a funkció támogatja a kiváló minőségű eredményeket, és csökkenti a hibák kockázatát.
● Kémiai stabilitás: A SiC bevonatú dummy ostya kémiai stabilitása lehetővé teszi, hogy lebomlás nélkül ellenálljon különféle korrozív anyagoknak. Ez a tulajdonság kritikus fontosságú az ostya sértetlenségének megőrzéséhez vegyi expozíció során.
● Sokoldalú tesztelés és kísérletezés: A SiC bevonatú próbalapkák elengedhetetlenek a félvezetőgyártás minden szakaszában, biztonságos és megbízható tesztelési és kísérleti eszközt biztosítva. Ezek elengedhetetlenek a gyártási folyamat elején, biztosítva, hogy minden paraméter optimális legyen az értékes gyártási ostyák felhasználása előtt.
● Védelem diffúzió közben: A diffúziós folyamat során a próbabábu lapkák létfontosságú szerepet játszanak a szabványos szilícium lapkák árnyékolásában. Ez a védelmi funkció megakadályozza a sérülést és a szennyeződést, ezáltal megőrzi az eredeti ostya integritását és minőségét.
● Mérési pontosság: Ezeket az ostyákat gondosan használják filmvastagság, nyomásállóság és tükrözési index mérésére. Segítenek a flipperek jelenlétének kimutatásában és a minta méreteinek kiértékelésében a litográfiában, jelentősen hozzájárulva a folyamat pontosságához és a hibák csökkentéséhez.
Valójában a VeTek Semiconductor támogatja a személyre szabott termékszolgáltatásokat, és minden egyes CVD SiC bevonatú próbalapon felhasználó által definiált sorozatosítást tud biztosítani az ügyfelek igényei szerint, lehetővé téve a testreszabott méretet és vastagságot. Az egyedi lézergravírozás tovább csökkenti a keresztszennyeződés kockázatát, így biztosítva a magas fokú tisztaságot és megbízhatóságot.